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El microscopio electrónico de barrido (SEM) es una poderosa herramienta utilizada en la investigación científica y varias industrias examinar la superficie de los materiales en una alta resolución. A diferencia de los microscopios ópticos tradicionales, SEM utiliza un haz de electrones enfocado para crear imágenes detalladas de la muestra.. Aplicaciones. La figura \(\PageIndex{3}\) muestra cuatro ejemplos de aplicaciones de microscopía electrónica de barrido para la medición del tamaño de partícula (superior izquierda), para la evaluación de nanocables (superior derecha), para caracterizar los canales en un dispositivo microfluídico (inferior izquierda), y para examinar la punta de un voladizo y punta utilizados para.